精密?chē)?guó)產(chǎn)電流源高精度IV曲線測(cè)試掃描儀

精密?chē)?guó)產(chǎn)電流源高精度IV曲線測(cè)試掃描儀優(yōu)勢(shì)
? 性能強(qiáng)大-作為電壓源和或電流源，并同步測(cè)量電流和或電壓，支持四象限工作?？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮?，預(yù)防器件損壞。覆蓋0-3A的電流范圍0-300V的電壓范圍，全量程測(cè)量精度0.03%。

? 靈活多樣-支持兩線制和四線制測(cè)量，更準(zhǔn)確的低內(nèi)阻量測(cè);集成線性階梯掃描、對(duì)數(shù)階梯掃描、自定義掃描等模式;專(zhuān)業(yè)l-V特性及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件。

? 易學(xué)實(shí)用-簡(jiǎn)化了如I-V和l-t/V-t曲線等各種應(yīng)用的測(cè)量準(zhǔn)備工作。電容式觸摸屏圖形用戶界面(GUI),提供圖形化和數(shù)字化兩種測(cè)量結(jié)果顯示模式，便于使用和查看；詳詢一八一四零六六三四七六；

提供的應(yīng)用程序

- 序列掃描

- 自定義序列

- 數(shù)據(jù)記錄儀：持續(xù)輸出恒壓源測(cè)試模式；持續(xù)輸出恒流源測(cè)試模式

- APD管

- 晶體管：MOSFET管測(cè)試；三極管測(cè)試

- LIV：PIN管掃描測(cè)試

- Gummer：雙臺(tái)源表使用同樣參數(shù)進(jìn)行掃描