TR518SII|二手線路板測(cè)試儀市場(chǎng)|二手線路板測(cè)試儀出售

本次出售的TR518FV二手線路板測(cè)試儀，經(jīng)過嚴(yán)格的檢測(cè)和校準(zhǔn)，確保性能穩(wěn)定可靠。該設(shè)備適用于各種線路板的測(cè)試需求，包括短路、開路和元件測(cè)試等。其高清彩色LCD顯示屏和精確的測(cè)試精度使得測(cè)試過程更加直觀和準(zhǔn)確?，F(xiàn)以優(yōu)惠的價(jià)格出售，是您進(jìn)行線路板測(cè)試的理想選擇。

測(cè)試點(diǎn)數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
大型主機(jī)(8u):可以每片關(guān)開板256點(diǎn)擴(kuò)充至3584點(diǎn)
測(cè)試步驟
步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間
開路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍
電阻:0.01Ω至40MΩ 電晶體/二極體: 0.1V至9.99V
電容:1.0PF至100mF Zener Diode: 標(biāo)準(zhǔn),0.1V至9.99V,
選配,HV,0.1V至48V
電感:1.0μH至60H
隔離點(diǎn)電路
隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇,每測(cè)試步驟5點(diǎn)
測(cè)試值上下限設(shè)定范圍
上限:+1%至9*** 下限:-1%至-***
可測(cè)電路板尺寸
標(biāo)準(zhǔn)配備: 420mm(寬)×300mm(深)×100mm(高)
選購配備: 500mm(寬)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求訂做.
主控制電腦
Pentium等級(jí)以上PC
監(jiān)視器
15"顯示器
記憶設(shè)備
80GB以上硬式磁碟機(jī)一臺(tái)
列印機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)配備:微型印表機(jī)

Agilent Technologies安捷倫(美國)，Teradyne泰瑞達(dá)(美國)、Check Sum（美國）、AEROFLEX（美國）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。美國泰瑞達(dá)和安捷倫仍是領(lǐng)導(dǎo)品牌，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!
定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件