ESD2000靜電EMC模擬器EMS61000-2A價(jià)格
價(jià)格面議2023-06-27 14:03:54
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深圳市新耀德電子儀器有限公司
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靜電放電發(fā)生器
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回收二手儀器,放電發(fā)生器,回收閑置靜電發(fā)生器,EMC模擬器
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曾廣文
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ESD2000靜電EMC模擬器EMS61000-2A價(jià)格
靜電槍 脈沖 雷擊浪涌發(fā)生器PRM61245TA 三合一 一體機(jī) 二手儀器,
組合式干擾發(fā)生器PRM61245A是在EED2007基礎(chǔ)上升級(jí)的第三代產(chǎn)品,是多功能組合測(cè)試儀,是多功能組合機(jī),包含靜電放電和電快速瞬變脈沖群、雷擊浪涌三項(xiàng)測(cè)試功能;產(chǎn)品符合IEC61000-4-2、4、5和GB/T17626.2、4、5等最新標(biāo)準(zhǔn)。


手持式靜電放電發(fā)生器EDS 16H 16.5KV EMC模擬發(fā)生器 EDS20H 30H,SESD200 16.5kV靜電槍 SCHLODER 二手放電發(fā)生器,
電磁兼容抗擾度測(cè)試設(shè)備 德國(guó)HlLO-TEST可生產(chǎn)全系列高壓和大電流測(cè)試設(shè)備,同時(shí)也可以生產(chǎn)滿足lEC61000-4系列標(biāo)準(zhǔn)的抗擾度 測(cè)試設(shè)備: SESD200,靜電放電測(cè)試儀滿足lEC61000-4-2 滿足 IEC801-2,lEC61000-4-2,EN61000-4-2要求的測(cè)試。 接觸放電:連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)8kV 空氣放電:連續(xù)可調(diào)最高可達(dá)5kV CE-TESTER 一體化設(shè)計(jì)的電磁兼容測(cè)試設(shè)備,用于電磁兼容抗抗度測(cè)試 : ? 微處理器控制,前面板LCD菜單顯示 ? ? ? ? ? ? ? ? 手動(dòng)操作,或設(shè)置生成自動(dòng)執(zhí)行的測(cè)試進(jìn)程 內(nèi)置打印接口,可直接打印測(cè)試報(bào)告 光隔離RS232C接口,可由外部計(jì)算機(jī)對(duì)設(shè)備實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制 其中包括 電快速瞬變 滿足 IEC 61000-4-4,EN61000-4-4,VDE 0847-4-4 浪涌 滿足 lEC 61000-4-5,EN610004-5,VDE 08474-4-5 工頻磁場(chǎng) 滿足 lEC 61000-4-8,EN 610004-8,VDE 0847-4-8 脈沖磁場(chǎng) 8/20μs 滿足 lEC 61000-4-9,EN 610004-9,VDE 0847-4-9 電壓跌落與變化 滿足 lEC 61000-4-11 ,EN610004-11 ,VDE 0847-4-11 CE-TESTER也可區(qū)分為以下單元分別應(yīng)用,該單元可在將來輕松升級(jí)為完整的CE-TEST系統(tǒng): CE-TESTER 1 包括電快速瞬變和浪涌 將來可提供電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE 1 只包括浪涌 將來可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) CE-SURGE2 包括浪涌和電壓跌落與變化測(cè)試 將來可提供電快速瞬變和電壓跌落與變化測(cè)試升級(jí) EFTG4510 電快速瞬變測(cè)試儀 滿足 lEC61000-4-4 所要求的測(cè)試 波形:5/50ns,0.2-4.4kV,脈沖頻率為1kHz-1MHz 可通過光隔離RS232進(jìn)行控制 CE-SURGE 混合法形發(fā)生器 滿足 lEC61000-4-5,lEEE587,VDE0847-4-5所要求的測(cè)試。 波形為 :電壓1.2/50us 電流為8/20us 可通過光隔離 RS232 進(jìn)行控制


德國(guó)施羅德SCHLODER SESD216,SESD230,SESD30000 靜電發(fā)生器,
德國(guó)施羅德SCHLODER SESD216,SESD230,SESD30000
產(chǎn)品概述:
靜電放電發(fā)生器SESD216可以仿真IEC/EN61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)中定義的靜電放電,
依靠被測(cè)設(shè)備(EUT)和用于實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的測(cè)試設(shè)置,TEC標(biāo)準(zhǔn)出示了兩種測(cè)試方法:
1.空間放電
在這個(gè)方法中,測(cè)試產(chǎn)生器SESD216必須被移動(dòng)到EUT,高壓放電是在空間中進(jìn)行的。
測(cè)試電壓的可變范圍從200V到16500V,每一個(gè)單脈沖具有非常短的上升時(shí)間,因此
可以產(chǎn)生一個(gè)寬的RF頻譜和干擾。
2.接觸放電
帶有一個(gè)尖頂點(diǎn)的放電電極被連接到被測(cè)物(EUT),放電開關(guān)是一個(gè)真空繼電器,
這種測(cè)試方法減少了閉合速度,幅度,濕度和溫度等參數(shù)的干擾。
重要的:如果測(cè)試尖端沒有接觸(例如涂漆的或氧化的表面)將不能觸發(fā),顯示器將出示
“NO CONTACT”,所以在接觸放電模式我們可以放心的進(jìn)行一個(gè)安全的放電。
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曾碧新
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