二手儀器價格SCR曲線圖示儀場效應管測試儀

介子分析儀	SY-8219	品牌	Agilent/安捷倫
工作溫度	常溫	顯示方式	數(shù)字式
晶體管	CS-3100	類型	多參數(shù)測試儀

二手儀器價格SCR曲線圖示儀場效應管測試儀

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性測試分析儀二手，
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性測試分析儀SY-8219



用于超寬帶域的高頻材料分析

SY-8218: 10Hz ～ 10MHz

SY-8219: 10Hz ～ 1MHz



用途

軟磁性材料, 硅鋼片, 電感等

傳統(tǒng)汽車車載電子零部件

電器電子一般電器產品

電子零部件，組件

材料非金屬材料

適合于測試硅鋼片、鐵氧體、非晶體材料等軟磁性材料磁特性

產品特點

顯示屏: 8.4″ TFT LCD SVGA 800×600像素彩色顯示屏

寬測量頻率

SY-8218: 正弦波10Hz – 10MHz, 方波在占空比50:50時10Hz – 1MHz

SY-8219: 正弦波10Hz – 1MHz, 方波在占空比50:50時10Hz – 1MHz

16倍高速采集數(shù)據(jù) (與巖崎前B-H分析儀型號比較)

采集數(shù)據(jù)在8,192點/周期執(zhí)行精確參數(shù)測量, 如Hc (強制力), Br (殘余通量密度) 和其他參數(shù)

脈沖勵磁功能

正弦波與脈沖(在占空比50:50和1MHz時) 勵磁均為標準功能

數(shù)模轉換器: 16位 (8,192點/周期)

磁通密度信號檢測: 感應電壓檢測線圈兩端壓降法. 最大信號檢測電壓±200V

寬溫度范圍恒溫箱掃描系統(tǒng)提供汽車車輛標準AEC-Q200等級0兼容, 作業(yè)溫度范圍 -55oC ~ +180oC, 4個樣品測試 (SY-330)

全自動恒溫箱掃描系統(tǒng)提供作業(yè)溫度范圍-30°C ~ +150°C和最多20/41個樣品測試 (SY-320A/SY-321A)

DC – 3MH, 最大電壓 ±150V, 最大電流 ±6A雙極性功率放大器 (SY-5001)

DC – 3MHz, 最大電壓 ±75V, 最大電流 ±6A 雙極性功率放大器 (SY-5002)

DC – 10MHz, 最大電壓 ±71V, 最大電流 ±1A 雙極性功率放大器 (HSA4101-IW)

小型片狀樣品磁特性測試臺樣品尺吋要求 (SY-956)

樣品的長度必須是36mm以上

樣品的寬度必須是35mm以下

樣品的厚度必須是3mm以下

最大DC偏置電流30A, 最大AC波紋電流±6A 直流疊加測試臺 (SY-960/961/962)

測量頻率：10Hz 至 10MHz （SY-8218），10Hz 至 1MHz （SY-8219）
應用波形：正弦波、方波（10Hz~1MHz）
最大輸入電流：±6A
最大輸入電壓：±200V
勵磁方法：自動勵磁

（最大磁場、最大磁通密度、最大勵磁電流、最大感應電壓指定）
乘以衰減交變磁場，以免留下殘留磁化而減磁
規(guī)格
項目規(guī)格

半導體特性曲線圖示儀 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (巖崎),
產品特點
顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏
正確測試半導體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管的最佳解決方案
采用電路圖模式顯示內部的配線狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測試時的誤操作(附圖)
WAVE模式: 能確認實際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)
可以像示波器一樣通過觀察模塊上實際印加電流和電壓的波形來確定脈寬和實際測試點 (Timing)
可通關確認實際波形, 適時調整脈寬和測試點
避免示波器的探棒影響, 可確認實時的異常信號
可非常容易地確認模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況
可實現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測試 (選件CS-603A/CS-605A)
可實現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)
標配LAN和USB接口
產品功能
電子電力元件或器件測試波形特性的功能顯示 (附圖)
配備選件 CS-603A (3kV) 或 CS-605A (5kV), 可實現(xiàn)電子電力器件如SiC和GaN等的電容測試
在3kV (CS-603A)/5 kV (CS-605A) 作自動與掃描電容測試
曲線圖示儀的測試適配器可用于各種器件封裝類型
測試參數(shù)包括:
Cies, Ciss (輸入電容)
Coss (輸出電容)
Cres, Crss (反向傳輸電容)
Ct (端子間的電容)
Cgs, Cge/Cgd, Ccg/Cds, Cce (已計算)
Rg (柵極電阻)
可實行晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)
具有外部聯(lián)鎖功能的恒溫箱高低溫試驗
與電腦全自動化的完美結合
模塊或數(shù)個芯片, 器件自動切換測試
可自動控制加熱板, 全自動進行六合一模塊的溫度特性測量
測試結果窗口 (附圖)
波形比較功能: 可將產品開發(fā)時的不穩(wěn)定狀態(tài)或不良分析時測得的多個波形進行同屏比較, 或通過波形比較來判斷是否合格 (附圖)
產品應用
適用于高電壓或高電流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半導體器件 (如晶體管, 二極管和 LED) 的特性測試
電力電子器件 (如 SiC和GaN) 的電容測量 (選件CS-603A/CS-605A)
可實行晶圓和芯片上的電容測試 (探針臺和選件CS-603A/CS-605A)
靜態(tài)特性測試包括漏電流, 飽和電壓, VF和Vth (附圖)
傳輸特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和電路模塊的測試功能
器件測試
可以在短時間內執(zhí)行多個器件的測試和記錄. 操作員只需根據(jù)器件替換和連接更改來輸入樣本名稱, 以重復相同的測試. 在既定條件下判斷 (通過/失敗) 將顯示每個測試與圖像和波形數(shù)據(jù)也將自動存儲(附圖)
半導體溫度特性測試評估